高壓蒸煮實驗適用于各電子連接器、電鍍産品、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業、被動元件及電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的氧化加速壽命試驗，符合國標軍規MTL-STP-208F，202。

　　高壓蒸煮實驗應用：

　　★元件的人工老化只有在一個非常狹窄的溫度范圍內發生，特別在93C，±3C蒸汽溫度。GAH蒸汽老化機系列是當前市場滿足該要求的。對于元件生產商和消費者-軍用，商用，工業用，GAH憑借其精密的全程參數控制功能，成為您的選擇。

　　★同時當前也有許多不同的產品類型或檢測設備，用戶只需將定時器到實際檢測的持續時間。每個型號的設計，滿足不同的高低要求。每個構造都有其各自的特殊選件。用戶可根據您的不同要求，選擇適合的一款系統。 高溫蒸煮儀技術參數：

　　◎外部尺寸：W60×H50×D45cm

　　◎內部尺寸：W50×H20×D35cm

　　◎升溫時間：大約45分鐘。

　　◎蒸汽溫度：upto97℃

　　◎計時功能：9999分鐘。

　　◎重量：30KG

　　◎電壓電流：AC220V8A/2.2KW/10A

　　產品用途：

　　本設備適用于各電子連接器、電鍍産品、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業、被動元件及電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的氧化加速壽命試驗，符合國標軍規MTL-STP-208F，202。

　　高壓蒸煮實驗特性

　　◎內外箱采用SUS#304不銹鋼板;

　　◎PID+PWM+SSR溫控系統，雙重超溫保護，安全可靠;

　　◎型熱電偶感知器與溫度可控制解析能力0.1;

　　◎蒸汽試戲驗目標設定控制/蒸汽試驗運轉計時時間設定控制;

　　◎可擴充預約開機時間控制裝置/純水RO塑滲透自薦動供水裝置。